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Anforderung bestimmt Testmethode


Vorteile von elektrischen Testsystemen in der Elektronikfertigung im Vergleich mit optischen Inspektionssystemen


Ist Testen wirklich nur ein kostenträchtiger Produktionsschritt?Anforderung bestimmt Testmethode



Metakey Beschreibung des Artikels:     Das Testen hat in den letzten Jahren einen drastischen Wandel erfahren. Neben den klassischen elektrischen Testverfahren In-Circuit- und Funktionsprüfung


Zusammenfassung:    Es geht beim Testen nicht mehr nur rein um die Verifizierung, ob eine Baugruppe funktioniert, sondern zunächst einmal darum sicherzustellen, dass die Fertigung optimiert werden kann“, führt Peter Kuhlemann, Field Product Specialist bei der Teradyne Assembly Group, aus. Offene Hardware- und Testplattformen sowie Softwarekonzepte, ist ein sehr probates Mittel um kostengünstig einen Produktionstest durchzuführen.“ Dem stimmt auch Schneider zu: „In Zukunft werden verstärkt modulare Testsysteme benötigt, da sich die Systeme kundenspezifisch anpassen können müssen. Man benötigt aber kombinierte Tester für eine hohe Fehlerabdeckung, egal ob in einem System integriert oder mehrere einzelne zusammengestellt.“ Seemann relativiert nun seine vorherige Aussage: „Ich glaube auch nicht, dass es eine einzig allein selig machende Teststrategie gibt.


Die folgenden Fragen werden in diesem Artikel beantwortet:    

  1. Da die hohe Integration auch die Qualität der Elektronik erhöht, stellt sich die Frage, ist der Fertigungsschritt Prüfen nur kostenträchtig und könnte entfallen?
  2. Von Ihnen ausgesucht: Weitere Informationen gewünscht?




Vorteile von elektrischen Testsystemen in der Elektronikfertigung im Vergleich mit optischen Inspektionssystemen




Zusammenfassung: TL;DR



Elektrische Testsysteme und optische Inspektionssysteme spielen zentrale Rollen in der Elektronikfertigung, unterscheiden sich jedoch deutlich in ihren Einsatzmöglichkeiten und Vorteilen.
Elektrische Tests wie In-Circuit- und Funktionstests überprüfen die Funktionsfähigkeit und elektrische Integrität von Produkten äußerst präzise. Im Gegensatz dazu erkennen optische Systeme physische Defekte, wie etwa Lötfehler oder fehlende Komponenten, durch Bildverarbeitung.
Während elektrische Systeme durch tiefgreifende Fehlersuche punkten, überzeugen optische Methoden durch Geschwindigkeit und größere Abdeckung bei sichtbaren Fehlern. Eine Kombination beider Ansätze liefert jedoch oft die beste Qualitätssicherung.





Was sind elektrische Testsysteme?



Elektrische Testsysteme überprüfen elektronische Baugruppen auf ihre Funktionalität und Qualität. Hierbei kommen zwei Hauptmethoden zum Einsatz:



  • In-Circuit-Test (ICT): Dieser Ansatz analysiert einzelne Schaltkreiskomponenten, prüft deren Werte sowie Verbindungen und erkennt Defekte wie Kurzschlüsse oder unterbrochene Schaltkreise.

  • Funktionstest: Hier wird das vollständige Produkt unter realistischen Bedingungen getestet, um sicherzustellen, dass es wie vorgesehen funktioniert.



Diese Verfahren sind besonders wichtig bei komplexen Baugruppen wie Mikroprozessoren oder hochintegrierten Schaltungen.





Wie funktionieren optische Inspektionssysteme?



Optische Inspektionssysteme nutzen Kameras und Algorithmen zur Fehlererkennung. Typischerweise kommen zwei Varianten zum Einsatz:



  • Automatisierte Optische Inspektion (AOI): Erkennt Oberflächenfehler wie fehlende Bauteile, Lötfehler oder falsche Polungen mithilfe von hochauflösenden Kameras.

  • Röntgeninspektion (AXI): Ermöglicht die Untersuchung versteckter Verbindungen, z. B. unter BGAs (Ball Grid Arrays), durch Röntgenbilder.



Diese Systeme sind ideal für schnelle Produktionsprozesse, bei denen visuelle Fehler sichtbar gemacht werden müssen.





Vergleich der beiden Systeme: Elektrisch vs. Optisch



1. Fehlerabdeckung



Elektrische Tests erfassen interne Defekte, die optische Systeme nicht erkennen können, wie etwa fehlerhafte Chips oder Widerstandswerte außerhalb der Toleranz. Optische Inspektionen hingegen decken physisch sichtbare Probleme wie falsche Bestückung oder Lötfehler ab.



2. Geschwindigkeit und Effizienz



AOI-Systeme arbeiten schneller als viele elektrische Tests, da sie große Platinen in Sekundenschnelle analysieren können. Elektrische Tests erfordern oft zusätzliche Einrichtung und längere Prüfzeiten.



3. Kosten



Optische Systeme sind häufig günstiger in der Erstinvestition, insbesondere für kleine Produktionen. Elektrische Testsysteme können teurer sein, bieten jedoch eine tiefere Diagnostik – eine unverzichtbare Voraussetzung bei hochkomplexen Produkten.



4. Anpassungsfähigkeit



Während elektrische Testsysteme spezifischer auf Produkte zugeschnitten werden müssen, sind optische Inspektionssysteme flexibler einsetzbar. Gerade modulare elektrische Systeme ermöglichen jedoch zunehmend eine Anpassung an wechselnde Anforderungen.





Zukunft der Qualitätssicherung: Wo geht die Reise hin?



In der modernen Fertigung wird immer häufiger eine Kombination aus elektrischen und optischen Prüfverfahren eingesetzt. Modularität und offenes Hardware-Design gewinnen an Bedeutung, da sie eine anpassbare und kosteneffiziente Prüfung ermöglichen.



Ein Beispiel hierfür ist die Integration von Softwarelösungen für KI-gestützte Fehleranalysen. Diese können sowohl elektrische als auch optische Daten interpretieren und so präzisere Diagnosen erstellen.





Fazit: Die perfekte Kombination macht den Unterschied



Weder elektrische noch optische Testsysteme allein können alle Anforderungen einer modernen Elektronikfertigung abdecken. Die Stärken beider Ansätze ergänzen sich perfekt: Während elektrische Tests tiefer in die Funktionen eintauchen, sorgen optische Systeme für schnelle Ergebnisse bei visuellen Problemen.



Für Unternehmen in Sulzbach und darüber hinaus bedeutet dies eine ideale Kombination aus Präzision und Geschwindigkeit – entscheidend für wettbewerbsfähige Produktionslinien und höchste Produktqualität.





Mehr Informationen zur Wahl der richtigen Teststrategie finden Sie hier.





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Anforderung bestimmt Testmethode
Bildbeschreibung: Das Testen hat in den letzten Jahren einen drastischen Wandel erfahren. Neben den klassischen elektrischen Testverfahren In-Circuit- und Funktionsprüfung


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